DOI 10.34229/KCA2522-9664.24.2.14

УДК 621.396.6

Л.М. САКОВИЧ
Інститут спеціального зв’язку та захисту інформації Національного технічного університету України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», Київ, Україна,  lev@sakovich.com.ua

С.О. ГНАТЮК
Національний авіаційний університет, Київ, Україна,
 sgnatuk30@gmail.com

С.М. СЕМЕХА
Київський національний університет імені Тараса Шевченка, Київ, Україна,
 serhio174@ukr.net

Д.О. ВОЛОШЕНЮК
Міжнародний науково-навчальний центр інформаційних технологій та систем НАН України та МОН України, Київ, Україна,  p-h-o-e-n-i-x@ukr.net

І.В. ПОПОВ
Міжнародний науково-навчальний центр інформаційних технологій та систем НАН України та МОН України, Київ, Україна,  popigor7@gmail.com

ФОРМАЛІЗАЦІЯ ПРОЦЕСУ РОЗРОБЛЕННЯ ДІАГНОСТИЧНОГО
ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ РАДІОЕЛЕКТРОННИХ ЗАСОБІВ

повний текст

СПИСОК ЛІТЕРАТУРИ

1. Острейковский В.А. Теория надежности. Москва: Высш. шк., 2003. 463с.


2. Сакович Л.М., Василюк Ю.С. Методика розробки діагностичного забезпечення поточного ремонту техніки зв’язку з комплексним використанням її надлишковості. Зв’язок. 2016. № 2. С. 48–55.


3. MIL-HDBK-217F. Military handbook: Reliability prediction of electronic equipment. (02-Dec-1991). 150 p.


4. Kharchenko V.A. Problems of reliability of electronic components. Modern Electronic Materials. 2015. Vol. 1, Iss. 3. P. 88–92. https://doi.org/10.1016/j.moem.2016.03.002.


5. Villanueva I., Lїzaro I., Anzuerez J. Reliability analysis of LED-based electronic devices. Procedia Engineering. 2012. Vol. 35. P. 260–269. https://doi.org/10.1016/j.proeng.2012.04.189.


6. Catelani M., Ciani L. Experimental tests and reliability assessments of electronic ballast system. Microelectronics Reliability. 2012. Vol. 52, Iss. 9–10. P. 1833–1836. https://doi.org/10.1016/j.microrel.2012.06.077.


7. Wan Y., Huang H., Das D., Pecht M. Thermal reliability prediction and analysis for high-density electronic systems based on the Markov process. Microelectronics Reliability. 2016. Vol. 56. P. 182–188. http://doi.org/10.1016/j.microrel.2015.10.006.


8. Ксенз С.П. Диагностика и ремонтопригодность радиоэлектронных средств. Москва: Радио и связь, 1989. 248 с.


9. Ксенз С.П., Полтаржицкий М.И., Алексеев С.П., Минеев В.В. Борьба с диагностическими ошибками при техническом обслуживании и ремонте систем управления связи и навигации. СПб.: ВАС, 2010. 240 с.


10. Локазюк В.М., Савченко Ю.Г. Надійність, контроль, діагностика і модернізація ПК. Київ: Академія, 2004. 376 с.


11. Василишин В.І., Женжера С.В., Чечуй О.В., Глушко А.П. Основи теорії надійності та експлуатації радіоелектронних систем. Харків: ХНУПС, 2018. 268 с.


12. Вишневський В.В., Жердєв М.К., Ленков С.В., Проценко В.О. Діагностування аналогових і цифрових пристроїв радіоелектронної техніки. Київ: ТОВ «Компанія ЛІК», 2009. 224 с.


13. Бобало Ю.Я., Волочій Б.Ю., Лозинський О.Ю., Манздій Б.А., Озірківський Л.Д., Федасюк Д.В., Щербаковських С.В., Яковина В.С. Математичні моделі та методи аналізу надійності радіоелектронних, електротехнічних та програмних систем. Львів: Львівська політехніка, 2013. 300 с.


14. Романенко В.П. Сакович Л.М. Методика розробки діагностичного забезпечення групового пошуку дефектів при ремонті техніки зв’язку в польових умовах. Зв’язок. 2015. № 2. С. 53–56.


15. Рижов Є.В. Сакович Л.М. Дослідження показників якості групового пошуку дефектів під час поточного ремонту військової техніки зв’язку. Збірник наукових праць Військової академії. 2017. № 2 (8). С. 82–88.


16. Кононов В.Б., Науменко А.М., Водолажко О.В., Коваль О.В., Кондрашова І.І. Основи експлуатації засобів вимірювальної техніки військового призначення в умовах проведення АТО. Харків: ХНУПС, 2017. 288 с.


17. Kononov V., Ryzhov Ye., Sakovych L. Dependence of parameters of repair of military communication means on the quality of metrological support. Advanced Information Systems. 2018. Vol. 2, N 1. P 91–95. https://doi.org/10.20998/2522-9052.2018.1.17.


18. Ryzhov Ye., Sakovych L. Minimization measurement requirements for maintenance and repair special communication means. Collection «Information Technology and Security». 2017. Vol. 5, N 1. P. 106–114. https://doi.org/10.20535/2411-1031.2017.5.1.120586.